[发明专利]一种软腭形态及发育的检测方法在审
| 申请号： | 201810084808.0 | 申请日： | 2018-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN108175431A | 公开（公告）日： | 2018-06-19 |
| 发明（设计）人： | 任家银;游梦;王虎;田卫东;刘媛媛;刘莉;唐蓓;郑广宁;王扬 | 申请（专利权）人： | 四川大学 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 易小艺 |
| 地址： | 610064 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明属于医学软腭检测领域，尤其涉及一种软腭形态及发育的检测方法，其特征包括以下步骤：准备设备、头影测量侧位拍摄、头影测量发音侧位拍摄和在PACS系统中对比分析两次拍摄图像，检测软腭形态及发音时软腭的上抬高度及腭咽闭合情况等步骤。本发明通过两次头影测量侧位曝光，对比分析后不仅可以将被检查者的软腭形态及发育状况显示出来，在一定程度上还可以为腭裂修复中软腭形态的重建和腭咽闭合的研究提供参考。 | ||
| 搜索关键词： | 软腭 头影测量 侧位 闭合 对比分析 腭咽 发音 检测 发育 发育状况 检测领域 拍摄图像 准备设备 腭裂修复 拍摄 上抬 曝光 参考 医学 重建 检查 研究 | ||
【主权项】：
1.一种软腭形态及发育的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）准备设备，使设备达到要求的位置；（2） 头影测量侧位拍摄：将设备调整至头影测量侧位模式，第一次曝光被测者，并储存图像；（3）头影测量发音侧位拍摄：将设备调整至头影测量侧位模式，第二次曝光被测者，同时被测者持续发高元音“i”，直到拍摄完成，保存图像；（4）在PACS系统中对比分析两次拍摄图像，测定软腭形态及发音时软腭的上抬高度及腭咽闭合情况。
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