[发明专利]操作半导体装置的方法有效
| 申请号： | 201810014753.6 | 申请日： | 2018-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN108287768B | 公开（公告）日： | 2023-07-21 |
| 发明（设计）人： | 朴根荣;金智贤;朴东珍;李润稙 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F11/07 | 分类号： | G06F11/07;G06F12/14 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 张川绪;王兆赓 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种操作半导体装置的方法。一种操作半导体装置的方法包括：响应于检测到系统故障，将安全数据存储在存储器的安全区域中；通过使用随机密钥对存储在安全区域中的安全数据进行加密，以产生加密的安全数据；将加密的安全数据存储在安全区域中；对存储器的安全区域和非安全区域进行转储。 | ||
| 搜索关键词： | 操作 半导体 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种操作半导体装置的方法，所述方法包括：响应于检测到系统故障，将安全数据存储在存储器的安全区域中；通过使用在启动之后新产生的随机密钥对存储在安全区域中的安全数据进行加密，以产生加密的安全数据；将加密的安全数据存储在安全区域中；对存储器的安全区域和非安全区域进行转储。
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