[实用新型]多任务多温度段同时进行汽车电子元器件可靠性测试机构有效
申请号: | 201721867111.8 | 申请日: | 2017-12-26 |
公开(公告)号: | CN207964573U | 公开(公告)日: | 2018-10-12 |
发明(设计)人: | 董宁;陈益思;黄庆 | 申请(专利权)人: | 华测检测认证集团股份有限公司 |
主分类号: | G01N17/00 | 分类号: | G01N17/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518101 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种多任务多温度段同时进行汽车电子元器件可靠性测试机构,包括:若干测试筒,测试筒呈两端贯通内部的中空结构,被测电子元器件在测试筒内进行测试;底座,每个测试圆筒的下端固定于底座上,且底座还设有用于与被测电子元器件进行连接的接线端子组;控温组件,控温组件包括上盖、连杆及控温元件,上盖盖设于测试筒的上端,控温元件设于连杆下端端面上,且连杆的上端凸设于上盖上,连杆下端可穿过上盖并进入测试筒,控温元件位于被测电子元器件上方处,连杆可相对上盖上升或者下降,控温元件可对测试筒内温度进行控制。本实用新型是一种成本低廉、精确调整测试温度的多任务多温度段同时进行汽车电子元器件可靠性测试机构。 | ||
搜索关键词: | 测试筒 上盖 控温元件 元器件可靠性 电子元器件 测试机构 多温度段 汽车电子 底座 本实用新型 控温组件 上端 下端 接线端子组 测试圆筒 调整测试 中空结构 上方处 盖设 凸设 贯通 测试 穿过 | ||
【主权项】:
1.一种多任务多温度段同时进行汽车电子元器件可靠性测试机构,其特征在于,包括:若干测试筒,所述测试筒呈两端贯通内部的中空结构,被测电子元器件在所述测试筒内进行测试;底座,每个所述测试筒的下端固定于所述底座上,且所述底座还设有用于与被测电子元器件进行连接的接线端子组;控温组件,所述控温组件包括上盖、连杆及控温元件,所述上盖盖设于所述测试筒的上端,所述控温元件设于所述连杆下端端面上,且所述连杆的上端凸设于所述上盖上,所述连杆下端可穿过所述上盖并进入所述测试筒,所述控温元件位于被测电子元器件上方处,所述连杆可相对所述上盖上升或者下降,所述控温元件可对所述测试筒内温度进行控制;控制系统,所述控制系统包括温度控制单元和温度传感单元,所述温度传感单元设于所述测试筒内并位于被测电子元器件处,并用于检测被测电子元器件所处的温度环境,并将所检测到的温度信息传递给所述温度控制单元,所述温度控制单元根据所述温度传感单元发送而来的所述温度信息控制所述控温元件调节温度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华测检测认证集团股份有限公司,未经华测检测认证集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201721867111.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。