[实用新型]上位机程序测试电路

摘要

本实用新型公开了一种上位机程序测试电路，其包括单脉冲测试模块、双脉冲测试模块、参数测量模块，单脉冲测试模块与双脉冲测试模块并联且都与参数测量模块串联。本实用新型完成测试内容的连接，通过在一定安全区域内控制测试的进程，对于部分存在危险的试验，保证了人员的安全，使用上位机测试界面，加快了测试的进度，利用PC机处理大数据，可以快速得到想要的测试结果，利于测试数据的保存和后期数据分析，保护电路更稳定、更安全。

主权项

1.一种上位机程序测试电路，其特征在于，其包括单脉冲测试模块、双脉冲测试模块、参数测量模块，单脉冲测试模块与双脉冲测试模块并联且都与参数测量模块串联，其中：单脉冲测试模块，其包括单脉冲测试芯片、第一脉冲、第一示波器、第一三极管、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第一电容、第二电容、第三电容、第四电容、第五电容、第六电容、第一二极管、第二二极管、第三二极管、第四二极管、第一按钮、第二按钮，单脉冲测试芯片的第一引脚、第二引脚、地三引脚、第四引脚分别与第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻相连，第一电阻与第二电阻并联且都与第一电容串联，第一按钮与第一电容串联且接地，第三电阻与第四电阻并联，第三电阻与第一三极管的集电极相连，第四电阻与第一三极管的发射极相连，第二电容与第一三极管的基极相连，第二按钮与第二电容串联，第一按钮与第二按钮并联且都与第五电阻串联，单脉冲测试芯片的第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚分别与第三电容、第四电容、第五电容、第六电容相连，第三电容、第四电容、第五电容、第六电容分别与第一二极管、第二二极管、第三二极管、第四二极管串联，第一二极管、第二二极管、第三二极管、第四二极管之间并联且都与第一脉冲串联，第一脉冲、第六电阻、第一示波器之间依次串联；双脉冲测试模块，其包括双脉冲测试芯片、第二脉冲、第三脉冲、第二三极管、第三三极管、第二示波器、第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻、第十一电阻、第十二电阻、第七电容、第八电容、第九电容、第十电容、第十一电容、第十二电容、第十三电容、第十四电容、第三按钮、第四按钮、第五二极管、第六二极管、第七二极管，双脉冲测试芯片的第一引脚、第二引脚、地三引脚、第四引脚分别与第七电容、第八电容、第九电容、第十电容相连，第七电容、第八电容、第九电容、第十电容分别与第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻串联，第七电容、第七电阻、第三按钮依次串联并接地，第八电阻、第九电阻、第十电阻之间并联且都与第四按钮串联，第四按钮与第七二极管串联并接地，双脉冲测试芯片的第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚分别与第十一电阻、第十二电阻、第十一电容、第十二电容相连，第十一电阻、第十二电阻、第十一电容、第十二电容分别与第五二极管、第六二极管、第十三电容、第十四电容串联，第五二极管与第二三极管的发射极相连，第六二极管与第二三极管的集电极相连，第十三电容与第三三极管的发射极相连，第十四电容与第三三极管的集电极相连，第二三极管的基极与第二脉冲相连，第三三极管的基极与第三脉冲相连，第二脉冲与第三脉冲并联且都与第二示波器串联；参数测量模块，其包括参数测量芯片、第三示波器、第四三极管、第一晶体、第二晶体、第三晶体、第十三电阻、第十四电阻、第十五电阻、第十五电容、第十六电容、第八二极管、第九二极管、第十二极管、第五按钮、第六按钮，参数测量芯片的第一引脚、第二引脚、地三引脚分别与第十五电容、第十五电阻、第三晶体相连，第十五电容、第十五电阻、第三晶体分别与第一晶体、第二晶体、第十六电容串联，第一晶体、第二晶体、第十六电容之间并联且都与第五按钮串联，第十三电阻与第四三极管的发射极相连，第十四电阻与第四三极管的集电极相连，第四三极管的基极与第五按钮相连，参数测量芯片的第四引脚、第五引脚、第六引脚分别与第八二极管、第九二极管、第十二极管相连，第九二极管、第十二极管之间并联且都与第三示波器相连，第三示波器与第六按钮串联且接地。