[实用新型]一种银铝浆交界处电阻值测试装置有效
| 申请号： | 201721679117.2 | 申请日： | 2017-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN207742252U | 公开（公告）日： | 2018-08-17 |
| 发明（设计）人： | 潘熠霄;刘玉杰;万忠;杨斌;张愿成 | 申请（专利权）人： | 上海太阳能工程技术研究中心有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 褚明伟 |
| 地址： | 200241 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种银铝浆交界处电阻值测试装置，包括测试硅片，在测试硅片上印刷有银浆图案，在银浆图案上印刷有铝浆图案，其中银浆图案有用于与电阻测试仪的两个探针相结合的两端，铝浆图案设置在避开银浆图案两端的位置。与现有技术相比，本实用新型可以检测银浆与铝浆之间的接触电阻，帮助筛选银铝浆之间的匹配性是否优秀，节省检测成本与检测周期，提高了检验效率。 | ||
| 搜索关键词： | 银浆图案 银铝浆 铝浆 本实用新型 测试装置 交界处 硅片 电阻 检测 电阻测试仪 测试 印刷 接触电阻 图案设置 匹配性 探针 银浆 避开 筛选 图案 检验 帮助 | ||
【主权项】：
1.一种银铝浆交界处电阻值测试装置，其特征在于，包括测试硅片，在测试硅片上印刷有银浆图案，在银浆图案上印刷有铝浆图案，其中银浆图案有用于与电阻测试仪的两个探针相结合的两端，铝浆图案设置在避开银浆图案两端的位置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海太阳能工程技术研究中心有限公司，未经上海太阳能工程技术研究中心有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201721679117.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种实时监测接地网电阻值的装置
- 下一篇：一种氧传感器芯片定位电阻测试装置
