[实用新型]阻抗测试条有效
| 申请号： | 201721178920.8 | 申请日： | 2017-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN207215904U | 公开（公告）日： | 2018-04-10 |
| 发明（设计）人： | 程柳军;李艳国;陈蓓 | 申请（专利权）人： | 广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;宜兴硅谷电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人： | 刘静 |
| 地址： | 510663 广东省广州市广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种阻抗测试条，用于监测印制电路板的阻抗，所述印制电路板包括图形单元，所述阻抗测试条包括至少一层的阻抗层，至少一层阻抗层及其屏蔽层上设有平衡铜点，且至少一层阻抗层及其屏蔽层的残铜率与相应层的图形单元的残铜率相同。本实用新型由于各阻抗层及其屏蔽层的残铜率与相应层的图形单元的残铜率一致，因此保证了层压填胶后的阻抗测试条与图形单元的介质层厚度的一致性，从而降低阻抗测试条与图形单元的阻抗差异，提高阻抗测试条监测结果的准确性，有效地代表图形单元走线的真实阻抗值。 | ||
| 搜索关键词： | 阻抗 测试 | ||
【主权项】：
一种阻抗测试条，用于监测印制电路板的阻抗，所述印制电路板包括图形单元，其特征在于，包括：至少一层阻抗层及其屏蔽层，至少一层阻抗层及其屏蔽层上设有平衡铜点，且至少一层阻抗层及其屏蔽层的残铜率与相应层的图形单元的残铜率相同。
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