[实用新型]一种光电材料与器件多场耦合测试系统有效
| 申请号： | 201720724384.0 | 申请日： | 2017-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN206832912U | 公开（公告）日： | 2018-01-02 |
| 发明（设计）人： | 梁坤;章天金;周鹏 | 申请（专利权）人： | 湖北大学 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 武汉天力专利事务所42208 | 代理人： | 吴晓颖 |
| 地址： | 430062 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种光电材料测试设备，具体涉及一种光电材料与器件多场耦合测试系统，包括测试平台，所述测试平台上设有6个探针通道，分别为2个交流通道、2个直流通道、1个光纤通道和1个微波通道，实现多通道光电功能材料与器件的性能测试。本实用新型光电材料与器件多场耦合输运测试系统，结构简单、使用方便，分别集成磁场、电场、温度场、微波场及光场耦合系统，实现多场耦合条件下光电功能材料与器件的性能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电 材料 器件 耦合 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种光电材料与器件多场耦合测试系统，其特征在于：包括测试平台，所述测试平台上设有6个探针通道，分别为2个交流通道、2个直流通道、1个光纤通道和1个微波通道，所述测试平台下方设有低温超导磁体，所述测试平台旁设有变温系统，测试系统通过交流通道/直流通道外接AC/DC电压源，测试系统通过光纤通道外接红外‑可见‑紫外光源，测试系统通过微波通道外接微波系统。
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