[实用新型]一种散体颗粒碰撞落点分布和碰撞恢复系数测量装置有效

专利信息
申请号: 201720532416.7 申请日: 2017-05-15
公开(公告)号: CN206832627U 公开(公告)日: 2018-01-02
发明(设计)人: 朱良友;赵云华;钟英杰;祁亚茹 申请(专利权)人: 浙江工业大学
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00;G01N3/52
代理公司: 杭州赛科专利代理事务所(普通合伙)33230 代理人: 伍华荣
地址: 310014 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型涉及农业领域,尤其是一种散体颗粒测试装置。本实用新型中的一种散体颗粒碰撞落点分布和碰撞恢复系数测量装置,包括落料机构、撞击机构、落料收集机构和分析机构;撞击机构位于落料机构下方,落料机构用于将待测量的颗粒从高处放入撞击机构,落料机构设有与待测量颗粒粒径配合的落料孔;撞击机构将落料机构流出的颗粒碰撞到落料收集机构中,落料收集机构位于颗粒碰撞后的落料处,落料收集机构用于对撞击机构出来的颗粒进行分类收集,分析机构用于对落料机构中的颗粒进行定量分析。方便对散体颗粒进行碰撞落点分布和碰撞恢复系数进行测量,结构简单,使用方便。
搜索关键词: 一种 散体 颗粒 碰撞 落点 分布 恢复系数 测量 装置
【主权项】:
一种散体颗粒碰撞落点分布和碰撞恢复系数测量装置,包括落料机构、撞击机构、落料收集机构和分析机构;撞击机构位于落料机构下方,落料机构用于将待测量的颗粒从高处放入撞击机构,落料机构设有与待测量颗粒粒径配合的落料孔;其特征在于,撞击机构将落料机构流出的颗粒碰撞到落料收集机构中,落料收集机构位于颗粒碰撞后的落料处,落料收集机构用于对撞击机构出来的颗粒进行分类收集,分析机构用于对落料机构中的颗粒进行定量分析。
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