[实用新型]具有沟道式硅衬底的HEMT器件有效

专利信息
申请号: 201720125139.8 申请日: 2017-02-10
公开(公告)号: CN206401323U 公开(公告)日: 2017-08-11
发明(设计)人: 夏远洋;苗操;李亦衡;朱廷刚;严文胜 申请(专利权)人: 江苏能华微电子科技发展有限公司
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L29/06
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司32103 代理人: 孙仿卫
地址: 215600 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型涉及一种具有沟道式硅衬底的HEMT器件,包括硅衬底、形成在所述的硅衬底上表面的外延层,所述的硅衬底通过至少一条沟道分成多个相互独立的硅衬底块,所述的沟道形成对所述的硅衬底上导电通道的隔断。本实用新型通过沟道对硅衬底形成隔断,在保留衬底支撑作用的同时,阻断了漏电路径,实现了减小漏电电流,提升了击穿电压。
搜索关键词: 具有 沟道 衬底 hemt 器件
【主权项】:
一种具有沟道式硅衬底的HEMT器件,包括硅衬底、形成在所述的硅衬底上表面的外延层,其特征在于:所述的硅衬底通过至少一条沟道分成多个相互独立的硅衬底块,所述的沟道形成对所述的硅衬底上导电通道的隔断。
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