[实用新型]光学测量工装有效

专利信息
申请号: 201720093896.1 申请日: 2017-01-23
公开(公告)号: CN206469837U 公开(公告)日: 2017-09-05
发明(设计)人: 吴加文;田跃荣;尹玉田 申请(专利权)人: 歌尔科技有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/24;G01N21/84
代理公司: 北京鸿元知识产权代理有限公司11327 代理人: 袁文婷,张宁
地址: 266100 山东省青岛*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 实用新型提供了一种光学测量工装,包括产品放置平台、与产品放置平台相连的电缸,用于驱动产品放置平台旋转;其中,在产品放置平台上设置有第一凹槽和第二凹槽,在第一凹槽上设置有产品第一放置底座,在第二凹槽上设置有产品第二放置底座;在产品第一放置底座上设置有第一放置凹槽,在产品第二放置底座上设置有第二放置凹槽,第一放置凹槽和第二放置凹槽均用于放置待测量的产品,随着产品放置平台的旋转,光学测量设备对放置在第一放置凹槽和第二放置凹槽上的待测量的产品进行交替测量。通过本实用新型能够提高产品的光学测量效率。
搜索关键词: 光学 测量 工装
【主权项】:
一种光学测量工装,包括产品放置平台;其特征在于,还包括与所述产品放置平台相连的电缸,所述电缸用于驱动所述产品放置平台进行旋转;其中,在所述产品放置平台上设置有第一凹槽和第二凹槽,在所述第一凹槽上设置有产品第一放置底座,在所述第二凹槽上设置有产品第二放置底座;在所述产品第一放置底座上设置有第一放置凹槽,在所述产品第二放置底座上设置有第二放置凹槽,所述第一放置凹槽和所述第二放置凹槽均用于放置待测量的产品,随着所述产品放置平台的旋转,光学测量设备对放置在所述第一放置凹槽和所述第二放置凹槽上的待测量的产品进行交替测量。
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