[实用新型]一种测量透明介质折射率的装置有效

专利信息
申请号: 201720087466.9 申请日: 2017-01-23
公开(公告)号: CN206431045U 公开(公告)日: 2017-08-22
发明(设计)人: 梁伟韬 申请(专利权)人: 梁伟韬
主分类号: G01N21/45 分类号: G01N21/45
代理公司: 杭州浙科专利事务所(普通合伙)33213 代理人: 吴秉中
地址: 317000 浙江省台州市临海*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型公开了一种测量透明介质折射率的装置,包括激光器、扩束透镜、迈克尔逊干涉仪,所述的迈克尔逊干涉仪包括平面反射镜M1、M2与分光板G1、补偿板G2,在所述的迈克尔逊干涉仪平台上的平面反射镜M1与分光板G1之间设置旋转装置,所述的旋转装置包括固定在迈克尔逊干涉仪平台上的固定支架,所述固定支架上方转动配合连接用于插入透明介质的旋转支架,旋转支架的螺杆与螺旋测微器的测微螺杆接触。本实用新型通过优化设计,具有透明介质检测方便,操作简单,功能性强的特点。
搜索关键词: 一种 测量 透明 介质 折射率 装置
【主权项】:
一种测量透明介质折射率的装置,包括激光器、扩束透镜、迈克尔逊干涉仪,所述的迈克尔逊干涉仪包括平面反射镜M1、M2与分光板G1、补偿板G2,其特征在于在所述的迈克尔逊干涉仪平台上的平面反射镜M1与分光板G1之间设置旋转装置,所述的旋转装置包括固定在迈克尔逊干涉仪平台上的固定支架,所述固定支架上方转动配合连接用于插入透明介质的旋转支架,旋转支架的螺杆与螺旋测微器的测微螺杆接触。
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