[发明专利]印制电路板激光孔径偏小的返工方法有效

专利信息
申请号: 201711464602.2 申请日: 2017-12-28
公开(公告)号: CN108156759B 公开(公告)日: 2019-12-24
发明(设计)人: 郭耀强;陈黎阳;乔书晓 申请(专利权)人: 广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;宜兴硅谷电子科技有限公司
主分类号: H05K3/00 分类号: H05K3/00;H05K3/22
代理公司: 44224 广州华进联合专利商标代理有限公司 代理人: 李丹
地址: 510663 广东省广州市广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种印制电路板激光孔径偏小的返工方法,将板面划分为m个区域,在每个区域内分散测量n个孔的孔径,确定目标孔径的公差范围,将测得的m×n个孔中超过目标孔径下限的数据记为超下限孔径a,对超下限孔径a形成的集合按照目标孔径进行归类划分;计算同一目标孔径中各个孔的超下限孔径a的第一平均值b;并对板面上的超下限孔径a的孔进行第一次激光钻返工和第二次激光钻返工。本发明的印制电路板激光孔径偏小的返工方法根据第一平均值b与相应目标孔径之差,即通过评估孔径偏小的程度,对孔径偏小的孔进行返工,使其达到目标孔径的公差范围,减少报废成本,为高密度多层互联印制电路板激光小尺寸孔径返工提供依据。
搜索关键词: 返工 目标孔径 印制电路板 激光孔径 公差 激光钻 小尺寸孔径 数据记 板面 对板 多层 归类 报废 测量 激光 集合 互联 评估
【主权项】:
1.一种印制电路板激光孔径偏小的返工方法,其特征在于,包括:/n将印制电路板的板面划分为m个区域,在每个区域内分散测量n个孔的孔径,其中m≥2,n≥2;/n确定目标孔径的公差范围,获得目标孔径下限,将测得的m×n个孔中超过目标孔径下限的数据记为超下限孔径a,将各个孔的超下限孔径a记录成一个集合;/n对超下限孔径a形成的集合按照目标孔径进行归类划分;/n计算同一目标孔径中各个孔的超下限孔径a的第一平均值b;/n对板面进行棕化处理,根据所述第一平均值b与相应目标孔径之差,确定面铜所需厚度M,并将面铜减薄至面铜所需厚度M;/n根据所述第一平均值b与相应目标孔径之差,确定第一返工参数,对板面以第一返工参数进行第一次激光钻返工,扩大孔径至相应目标孔径的公差范围内;/n对超下限孔径的孔进行垂直切片确认,测量孔底距离底铜的余厚h;/n计算同一目标孔径中各个孔的余厚h的第二平均值i;/n根据所述第一平均值b与相应目标孔径之差,以及所述第一平均值b和第二平均值i,确定第二返工参数,对板面以第二返工参数进行第二次激光钻返工,将孔底距离底铜的余厚h去除。/n
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