[发明专利]一种广角摄像头模组脏污测试方法有效
| 申请号： | 201711436952.8 | 申请日： | 2017-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN108288264B | 公开（公告）日： | 2022-01-18 |
| 发明（设计）人： | 章平 | 申请（专利权）人： | 横店集团东磁有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/12;G06T7/136;G06T5/00;G06T5/50;H04N17/00 |
| 代理公司： | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人： | 尉伟敏;刘正君 |
| 地址： | 322118*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种广角摄像头模组脏污测试方法。解决现有技术中广角摄像头脏污检测困难的问题。步骤包括用摄像头对模板进行拍摄；对拍摄图像正常部分和暗黑部分进行区分，提取镜头成像边界位置信息；对拍摄图像进行中值滤波和二值化处理，获得具有脏污点图像；在镜头成像边界范围内从具有脏污点图像中寻找脏污点，计算出脏污坐标。本发明能够有效检测出广角镜头模组成像范围内的脏污，有效防止了镜头四周偏暗部分对脏污的检测影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 广角 摄像头 模组 脏污 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种广角摄像头模组脏污测试方法，其特征在于：包括以下步骤：S1.用摄像头对模板进行拍摄；S2.对拍摄图像正常部分和暗黑部分进行区分，提取镜头成像边界位置信息；S3.对拍摄图像进行中值滤波和二值化处理，获得具有脏污点图像；S4.在镜头成像边界范围内从具有脏污点图像中寻找脏污点，计算出脏污坐标。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于横店集团东磁有限公司，未经横店集团东磁有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711436952.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
