[发明专利]芯片故障注入检测设备及方法有效
| 申请号： | 201711429672.4 | 申请日： | 2017-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN108228373B | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 魏凡星;毕子祥;傅山;王嘉义 | 申请（专利权）人： | 中国信息通信研究院 |
| 主分类号： | G06F11/07 | 分类号： | G06F11/07 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 贾磊;王涛 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种芯片故障注入检测设备及方法，其中，该设备包括：控制装置，用于在故障注入检测过程中，接收到待测芯片热启动失败的反馈结果时，发送冷启动指令至故障注入装置；故障注入装置，用于根据所述冷启动指令，驱动所述冷启动装置启动，产生冷启动触发控制信号，将冷启动触发控制信号发送至冷启动装置；冷启动装置，与所述故障注入装置和待测芯片连接，用于根据所述冷启动触发控制信号，驱动待测芯片冷启动。上述技术方案实现了在故障注入检测过程中待测芯片热启动失败时，可自动重启待测芯片，降低了芯片故障注入检测的人工工作量，节约芯片故障注入检测的人力成本，提高了芯片故障注入检测的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 故障 注入 检测 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种芯片故障注入检测设备，其特征在于，包括：控制装置、故障注入装置和冷启动装置，其中：控制装置，用于在故障注入检测过程中，接收到待测芯片热启动失败的反馈结果时，发送冷启动指令至故障注入装置；故障注入装置，用于根据所述冷启动指令，驱动所述冷启动装置启动，产生冷启动触发控制信号，将冷启动触发控制信号发送至冷启动装置；冷启动装置，与所述故障注入装置和待测芯片连接，用于根据所述冷启动触发控制信号，驱动待测芯片冷启动。
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