[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201711383470.0 申请日: 2017-12-20
公开(公告)号: CN108206181B 公开(公告)日: 2023-07-25
发明(设计)人: 李基硕;金大益;黄有商;金奉秀;朴济民 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H10B12/00
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 张帆;张青
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供了一种半导体装置。所述半导体装置包括:衬底,其包括单元有源区和外围有源区;直接接触件,其排列在形成在所述衬底上的单元绝缘图案上,并且连接至所述单元有源区;位线结构,其包括与所述直接接触件的侧表面接触的薄导电图案;以及外围栅极结构,其位于所述外围有源区。所述外围栅极结构包括外围栅极绝缘图案和外围栅极导电图案的堆叠结构,所述薄导电图案包括第一材料,并且所述外围栅极导电图案包括所述第一材料,并且所述薄导电图案的上表面的水平比所述外围栅极导电图案的上表面的水平更低。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
1.一种半导体装置,包括:衬底,其包括单元有源区和外围有源区;直接接触件,其排列在形成于所述衬底上的单元绝缘图案上,并且连接至所述单元有源区;位线结构,其包括与所述直接接触件的侧表面接触的薄导电图案;以及外围栅极结构,其位于所述外围有源区,所述外围栅极结构包括外围栅极绝缘图案和外围栅极导电图案的堆叠结构,所述薄导电图案包括第一材料,并且所述外围栅极导电图案包括所述第一材料,并且所述薄导电图案的上表面的水平比所述外围栅极导电图案的上表面的水平更低。
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