[发明专利]一种基于同轴电阻的IGBT可靠性测试方法及系统在审
| 申请号： | 201711295700.8 | 申请日： | 2017-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN108051721A | 公开（公告）日： | 2018-05-18 |
| 发明（设计）人： | 沈培锋;李国杰;杨丰源;李勇;蓝叶锋;郭有强;杨光;刘欢;王凌燕;郑思源;武建文 | 申请（专利权）人： | 国网江苏省电力有限公司南京供电分公司;上海交通大学;国网江苏省电力有限公司;国家电网公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 | 代理人： | 朱戈胜;查俊奎 |
| 地址： | 210019 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了基于同轴电阻的IGBT可靠性测试方法，其特征在于，包括如下步骤，1)选择一IGBT测试电路，所述IGBT测试电路具有输出端，以提供测试电流；2)选择一同轴电阻，所述同轴电阻的输入端与被测IGBT的发射极串联，将被测IGBT的集电极和同轴电阻的输出端连接在IGBT测试电路的输出端；3)给被测IGBT的门极输入PWM脉冲，利用示波器显示同轴电阻两端电压波形，测得同轴电阻两端电压值，将同轴电阻两端电压值除以同轴电阻两电阻计算而得到被测IGBT的集电极电流Ic。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 同轴 电阻 igbt 可靠性 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.基于同轴电阻的IGBT可靠性测试方法，其特征在于，包括如下步骤，1)选择一IGBT测试电路，所述IGBT测试电路具有输出端，以提供稳定的测试电流；2)选择一同轴电阻，所述同轴电阻的输入端与被测IGBT的发射极串联，将被测IGBT的集电极和同轴电阻的输出端连接在IGBT测试电路的输出端；3)给被测IGBT的门极输入PWM脉冲，利用示波器显示同轴电阻两端电压波形，测得同轴电阻两端电压值，将同轴电阻两端电压值除以同轴电阻的电阻计算而得到流经被测IGBT的集电极的电流Ic。
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