[发明专利]角度传感器以及角度传感器系统有效
| 申请号： | 201711292795.8 | 申请日： | 2017-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN108225381B | 公开（公告）日： | 2021-01-12 |
| 发明（设计）人： | 穴川贤吉;望月慎一郎;平林启;渡部司也 | 申请（专利权）人： | TDK株式会社 |
| 主分类号： | G01D5/12 | 分类号： | G01D5/12 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 杨琦 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及角度传感器以及角度传感器系统。角度传感器具备多个合成磁场信息生成部、角度运算部。多个合成磁场信息生成部在互相不同的多个检测位置上检测检测对象磁场与除此之外的噪声磁场的合成磁场并且生成包含合成磁场的方向和强度中的至少方向的信息的多个合成磁场信息。在多个检测位置的各个上，检测对象磁场的方向对应于检测对象的角度进行变化。角度运算部根据多个合成磁场信息并使用最小二乘法来生成角度检测值。 | ||
| 搜索关键词： | 角度 传感器 以及 系统 | ||
【主权项】：
1.一种角度传感器，其特征在于：是生成与检测对象的角度具有对应关系的角度检测值的角度传感器，具备：多个合成磁场信息生成部，分别在互相不同的多个检测位置上检测检测对象磁场与除此之外的噪声磁场的合成磁场并且生成包含所述合成磁场的方向和强度中的至少方向的信息的多个合成磁场信息；以及角度运算部，生成所述角度检测值，在所述多个检测位置的各个上，所述检测对象磁场的方向对应于所述检测对象的角度而变化，所述角度运算部根据所述多个合成磁场信息并使用最小二乘法来生成所述角度检测值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于TDK株式会社，未经TDK株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711292795.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
