[发明专利]CdZnTe薄膜和AlN/CdZnTe基紫外光探测器制备方法及应用有效
申请号: | 201711281101.0 | 申请日: | 2017-12-07 |
公开(公告)号: | CN108258081B | 公开(公告)日: | 2020-06-26 |
发明(设计)人: | 沈悦;徐宇豪;张宗坤;顾峰;黄健;王林军 | 申请(专利权)人: | 上海大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0296;H01L31/109 |
代理公司: | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人: | 顾勇华 |
地址: | 200444*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种CdZnTe薄膜和AlN/CdZnTe基紫外光探测器制备方法及应用,基于AlN基底生长CdZnTe薄膜并制备AlN/CdZnTe基紫外光探测器,本发明AlN/CdZnTe基紫外光探测器制备方法包括AlN衬底的制备、CdZnTe多晶升华源的准备、衬底预处理、CdZnTe薄膜的生长过程、AlN/CdZnTe基紫外光探测器的电极制作5个主要步骤。本发明方法可以在AlN衬底上快速生长大面积、高质量的CdZnTe薄膜,AlN衬底可以保证AlN/CdZnTe基紫外光探测器在极端环境下的使用,所制得的复合结构对紫外光也有着较强的光响应。 | ||
搜索关键词: | cdznte 薄膜 aln 紫外光 探测器 制备 方法 应用 | ||
【主权项】:
1.一种基于AlN基底的CdZnTe薄膜的生长方法,其特征在于,包括如下步骤:a.AlN衬底的准备:使用AlN粉体为原料,AlN粉体的粒径不大于1μm,在不低于1.5MPa的条件下将AlN粉体进行初次干压,然后在不低于180MPa的油压条件下进行再次干压,得到AlN素坯,然后在氮氢混合气氛环境下,并在常压下,采用高温烧结方法制备块状AlN陶瓷,然后将得到的块状AlN陶瓷打磨切割至不大于1mm的厚度,再将AlN陶瓷基片的表面抛光至镜面亮度,用作衬底基板;b.CdZnTe多晶升华源的准备:将Zn的质量百分比含量为10%的CdZnTe多晶料在研磨皿中研磨至细粉末状,用作升华源材料;c.衬底预处理:将在所述步骤a中制备的AlN陶瓷基片分别用丙酮、酒精、去离子水分别清洗至少15分钟,洗去AlN陶瓷基片表面的杂质和有机物,用氮气吹干后,放入近空间升华反应室内,作为衬底备用;d.CdZnTe薄膜的生长过程:开机械泵抽真空,将升华室内气压抽至不高于5Pa以下,开卤素灯,将升华源和衬底以不高于50℃/min的升温速度分别加热到600℃和500℃;采用近空间升华法,在衬底上生长薄膜材料至少60mins后,关闭卤素灯,待衬底上生长的薄膜材料冷却至室温后,关闭机械泵,取出负载薄膜材料的衬底,得到CdZnTe薄膜和AlN陶瓷基片结合的AlN/CdZnTe复合结构组件。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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