[发明专利]一种集成式激光诱导声表面波缺陷检测装置在审

专利信息
申请号: 201711276551.0 申请日: 2017-12-06
公开(公告)号: CN108037077A 公开(公告)日: 2018-05-15
发明(设计)人: 易涛;苏明 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 郭德忠;仇蕾安
地址: 621054*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种集成式激光诱导声表面波缺陷检测装置,属于无损检测技术领域,包括:探测头、光纤束及探测器;所述探测头一侧端面的中心设有一个泵浦激光发射口,沿泵浦激光发射口周向均匀分布有探测激光口;探测头的泵浦激光发射口通过光纤束中与之对应的光纤与激光光源连接,探测头的每个探测激光口通过光纤束中与之对应的光纤分别与对应的激光光源及对应的探测器连接;所述泵浦激光发射口用于发射泵浦激光;所述探测激光口用于发射探测激光,并接收反射回来的探测激光传输给对应的探测器;该装置能够利用激光产生声表面波并采用激光探测的方式对被检测物体进行表面缺陷检测,缺陷检测效率高且操作方便。
搜索关键词: 一种 集成 激光 诱导 表面波 缺陷 检测 装置
【主权项】:
1.一种集成式激光诱导声表面波缺陷检测装置,其特征在于,包括:探测头(1)、光纤束(5)及探测器(8);所述探测头(1)一侧端面的中心设有一个泵浦激光发射口(2),沿泵浦激光发射口(2)周向均匀分布有两个以上探测激光口(3);所述探测器(8)的个数与探测激光发射口(3)的个数相同;所述光纤束(5)中的光纤与所述泵浦激光发射口(2)、探测激光发射口(3)一一对应;外部的激光光源与所述泵浦激光发射口(2)、探测激光发射口(3)一一对应;整体连接关系如下:探测头(1)的泵浦激光发射口(2)通过光纤束(5)中与之对应的光纤与激光光源连接,探测头(1)的每个探测激光口(3)通过光纤束(5)中与之对应的光纤分别与对应的激光光源及对应的探测器(8)连接;所述泵浦激光发射口(2)用于发射泵浦激光;所述探测激光口(3)用于发射探测激光,并接收反射回来的探测激光传输给对应的探测器(8);所述探测器(8)用于将接收的探测激光信息与样品标准进行比对:当样品标准相比相同时,则该探测激光口(3)所在处无缺陷;当探测器(8)接收的探测激光信息与样品标准相比有变化时,则该探测激光口(3)所在处存在缺陷;所述探测激光信息包括:探测激光的强度、位相或波形;所述样品标准为:将对表面没有缺陷的样品进行探测时,探测器(8)接收的探测激光信息作为样品标准。
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