[发明专利]基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法

摘要

本发明公开了一种基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法，包括：S1、建立次生孔隙度谱截止值计算公式：次生孔隙度谱截止值＝a×δ+孔隙度中值，a为固定系数，δ为电成像测井图像上所选取窗口中最小孔隙度与孔隙度中值范围内的孔隙度方差；S2、使用岩心核磁共振T2谱计算岩心次生孔隙度；S3、使用岩心核磁共振T2谱计算所得的岩心次生孔隙度刻度次生孔隙度谱截止值计算公式中固定系数a的数值，以获得刻度后次生孔隙度。本发明采用岩心核磁共振T2谱刻度，利用逐次逼近的方法获取次生孔隙度谱截止值计算公式中的固定系数a，增加了次生孔隙度谱截止值计算结果的可靠性，进而获得准确性高的次生孔隙度获取方法。

主权项

1.一种基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、建立次生孔隙度谱截止值计算公式：次生孔隙度谱截止值=a×δ+孔隙度中值其中，a为固定系数，δ为电成像测井图像上所选取窗口中最小孔隙度与孔隙度中值范围内的孔隙度方差，孔隙度中值为所选取窗口中的孔隙度中值；S2、使用岩心核磁共振T2谱计算岩心次生孔隙度；S3、使用岩心核磁共振T2谱计算所得的岩心次生孔隙度刻度次生孔隙度谱截止值计算公式中固定系数a的数值：采用步骤S1中的次生孔隙度谱截止值计算公式，在1‑3之间调整固定系数a的数值，控制次生孔隙度谱截止值计算结果，对截止值之后的孔隙度谱包络线所包围的面积进行积分计算次生孔隙度，获得孔隙度谱次生孔隙度；将逐次计算的孔隙度谱次生孔隙度与步骤S2获得的次生孔隙度进行误差分析，误差最小时对应的a值为刻度后确定值，对应的孔隙度谱次生孔隙度计算结果为刻度后次生孔隙度。