[发明专利]一种使用保偏光纤和双微透镜测量纳米线位移的装置有效

专利信息
申请号: 201711268230.6 申请日: 2017-12-05
公开(公告)号: CN108036726B 公开(公告)日: 2020-12-22
发明(设计)人: 邹吕宽;王宁;薛飞 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B9/02;G01H9/00
代理公司: 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 代理人: 余成俊
地址: 230031 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种使用保偏光纤和双微透镜测量纳米线位移的装置,由激光二极管产生的线偏振光从光纤耦合器的输入端的一条臂进入光纤耦合器,输出的10%的激光依次通过光纤耦合器的输出端的一条臂和双微透镜结构后形成具有极小束腰半径的高斯光束,将高斯光束中的纳米线定位在束腰半径处获得最佳的探测效果,所述的光电探测器与光纤耦合器的输入端的另一条臂连接,所述的光纤耦合器的输出端的另一条臂与浸入在液浸装置中。本发明利用保偏光纤和双微透镜结构,大幅提高了探测的信噪比和信号稳定性,同时得益于双微透镜的参数匹配,减小了出射高斯光束的束腰半径,提高了探测的空间分辨率。
搜索关键词: 一种 使用 偏光 透镜 测量 纳米 位移 装置
【主权项】:
1.一种使用保偏光纤和双微透镜测量纳米线位移的装置,其特征在于:包括有高斯光束中的纳米线、双微透镜结构、液浸装置、保偏光纤耦合器、带保偏尾纤的法布里-珀罗激光二极管以及光电探测器,其中光纤耦合器的四个臂、激光二极管的出射尾纤和光电探测器的输入端光纤均为保偏光纤,由激光二极管产生的线偏振光从光纤耦合器的输入端的一条臂进入光纤耦合器,输出的10%的激光依次通过光纤耦合器的输出端的一条臂和双微透镜结构后形成具有极小束腰半径的高斯光束,将高斯光束中的纳米线定位在束腰半径处,所述的光电探测器与光纤耦合器的输入端的另一条臂连接,所述的光纤耦合器的输出端的另一条臂与浸入在液浸装置中。
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