[发明专利]共轴全反式光学成像系统有效

专利信息
申请号: 201711251006.6 申请日: 2017-12-01
公开(公告)号: CN109870792B 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: 戴一帆;熊玉朋;陈善勇;关朝亮;铁贵鹏;彭小强 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科技大学
主分类号: G02B17/06 分类号: G02B17/06
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 代理人: 陈晖
地址: 410073 湖南*** 国省代码: 湖南;43
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种共轴全反式光学成像系统,前反射元件上开设有入射孔,前反射元件、后反射元件相对设置,前反射元件和后反射元件相对的两个面上分别加工出前反射面和后反射面,前反射面包括N个共轴环形反射面,且分别为第二反射面、第四反射面、……、第2N反射面(1n),后反射面包括N个共轴环形反射面,且分别为第一反射面、第三反射面、……、第2N‑1反射面(2n),共轴环形反射面为平面、二次曲面或非球面,光线通过入射孔进入前反射面和后反射面之间并依次通过第一反射面、第二反射面、第三反射面、第四反射面、……、第2N‑1反射面、第2N反射面反射后汇聚至成像面上,具有结构简单紧凑、便于调试、成像质量好且能实现大视场角等优点。
搜索关键词: 共轴全 反式 光学 成像 系统
【主权项】:
1.一种共轴全反式光学成像系统,其特征在于:包括前反射元件(1)、后反射元件(2)和成像面(3),所述前反射元件(1)、后反射元件(2)相对设置,所述前反射元件(1)和后反射元件(2)相对的两个面上分别加工出前反射面和后反射面,所述前反射面包括N个共轴环形反射面,且分别为第二反射面(11)、第四反射面(12)、……、第2N反射面(1n),所述后反射面包括N个共轴环形反射面,且分别为第一反射面(21)、第三反射面(22)、……、第2N‑1反射面(2n),所述共轴环形反射面为平面、二次曲面或非球面,光线通过入射孔进入前反射面和后反射面之间并依次通过第一反射面、第二反射面、第三反射面、第四反射面、……、第2N‑1反射面、第2N反射面反射后汇聚至所述成像面(3)上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军国防科技大学,未经中国人民解放军国防科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711251006.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top