[发明专利]光纤式微颗粒检测与计数方法及系统在审
申请号: | 201711249865.1 | 申请日: | 2017-12-01 |
公开(公告)号: | CN107991221A | 公开(公告)日: | 2018-05-04 |
发明(设计)人: | 黄战华;郎明远;张林;蔡怀宇;张尹馨;李凤娇;潘成 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01N15/14 | 分类号: | G01N15/14 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所12201 | 代理人: | 刘国威 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明涉及一种微颗粒光学检测方法,为提出具有较高分辨率和稳定性的利用光纤探针技术对微颗粒进行检测与计数的方法和系统。本发明,光纤式微颗粒检测与计数方法及系统,由基板固定激光器、微颗粒板和阵列光纤的位置,光源发出的平行激光束垂直入射微颗粒版上的微通道阵列上,光纤探针阵列中每一束光纤的纤芯对准相应的微颗粒通道,当没有微颗粒时,平行激光束直接透过微通道进入光纤的纤芯,当有微颗粒进入纤芯上方时,对于透明颗粒,穿过透明颗粒中油滴的光线只有很少一部分能够进入纤芯并形成稳定模式的传输;对于非透明颗粒,颗粒将光线完全遮挡;光电探测器计数送入计数电路完成最终计数。本发明主要应用于微颗粒光学检测场合。 | ||
搜索关键词: | 光纤 式微 颗粒 检测 计数 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种光纤式微颗粒检测与计数方法,其特征是,由基板固定激光器、微颗粒板和阵列光纤的位置,光源发出的平行激光束垂直入射微颗粒版上的微通道阵列上,光纤探针阵列中每一束光纤的纤芯对准相应的微颗粒通道,当没有微颗粒时,平行激光束直接透过微通道进入光纤的纤芯,当有微颗粒进入纤芯上方时,对于透明颗粒,穿过透明颗粒中油滴的光线只有很少一部分能够进入纤芯并形成稳定模式的传输,所述很少一部分是指满足光纤入射角度、且达到纤芯区域;对于非透明颗粒,颗粒将光线完全遮挡,没有光线能够进入纤芯;在光纤的出射端安装有光电探测器,将光电探测器输出信号进行信号处理得到油滴经过时的脉冲方波信号,送入计数电路完成最终计数。
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