[发明专利]一种暗室球面阵紧缩场静区特征谱分析方法有效
| 申请号： | 201711247327.9 | 申请日： | 2017-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN108009355B | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 苏杨;尹光;耿波 | 申请（专利权）人： | 南京长峰航天电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 董建林 |
| 地址： | 210061 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种暗室球面阵紧缩场静区特征谱分析方法，包括，根据频段和紧缩场尺寸，设计馈源天线、反射面和球面阵模型；将设计的模型导入电磁建模软件，提取出静区场采样点的电场分布；根据静区场采样点的电场分布，计算静区场角谱分布；根据静区场角谱分析绕射场分布。本发明由于电磁建模软件可以直接生成静区场数据，不需要考虑口径面场分布和自由空间网络响应函数，可以分析球面阵对紧缩场的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 暗室 球面 紧缩 场静区 特征 谱分析 方法 | ||
【主权项】：
1.一种暗室球面阵紧缩场静区特征谱分析方法，其特征在于：包括，根据频段和紧缩场尺寸，设计馈源天线、反射面和球面阵模型；将设计的模型导入电磁建模软件，提取出静区场采样点的电场分布；根据静区场采样点的电场分布，计算静区场角谱分布；根据静区场角谱分析绕射场分布。
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