[发明专利]一种抗干扰的测距方法及装置在审
| 申请号： | 201711241363.4 | 申请日： | 2017-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN108802746A | 公开（公告）日： | 2018-11-13 |
| 发明（设计）人： | 冯强;卢锁;李旭兴;沃伦;张莹;刘浩;张庆舜;郑凯;疏达;李远 | 申请（专利权）人： | 北醒（北京）光子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/08 | 分类号： | G01S17/08;G01S7/495 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100084 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种抗干扰的测距方法和装置，该方法中第一光测距装置会检测光探测过程中是否受到第二光测距装置的干扰，当检测到光探测过程中受到第二光测距装置的干扰时，则将光探测过程延迟预设时间，当检测到光探测过程中没有收到第二光测距装置的干扰时，则第一光测距装置获取光探测过程所采集的探测数据，进行数据处理过程以获得测距结果。可见，第一光测距装置检测到光探测过程受到其它光测距装置的干扰后，将光探测过程延迟预设时间，使得第一光测距装置的光探测过程，不会受到第二光测距装置的光探测过程的影响，确保第一光测距装置在光探测过程中所采集的探测数据的准确性，进而提高了第一光测距装置测距的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 光测距装置 光探测 测距 过程延迟 探测数据 抗干扰 预设 检测 数据处理过程 方法和装置 采集 测距结果 探测过程 检测光 | ||
【主权项】：
1.一种抗干扰的测距方法，其特征在于，应用于测距系统中的任意一个光测距装置，所述方法包括：第一光测距装置检测光探测过程是否受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰；当检测到所述第一光测距装置的所述光探测过程受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰时，所述第一光测距装置将所述光探测过程延迟预设时间；当检测到所述第一光测距装置的所述光探测过程没有受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰时，所述第一光测距装置获取所述光探测过程所采集的探测数据，进行数据处理过程获得测距结果。
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