[发明专利]一种观测核级银-铟-镉控制棒低倍组织的样品处理方法

摘要

本发明公开了一种观测核级银‑铟‑镉控制棒低倍组织的样品处理方法，该方法包括：一、将核级银‑铟‑镉控制棒机械加工出观测平面；二、将核级银‑铟‑镉控制棒观测平面依次进行研磨和抛光；三、对经抛光后的核级银‑铟‑镉控制棒观测平面进行一次擦蚀；四、对经一次擦蚀后的核级银‑铟‑镉控制棒观测平面进行二次擦蚀，然后对二次擦蚀后的核级银‑铟‑镉控制棒进行观测。本发明首先采用由H2O2溶液、氨水溶液和水组成的第一腐蚀剂去除核级银‑铟‑镉控制棒观测平面上的灰尘、油污和致密氧化层，使合金表面显露，然后采用醋酸、乙醇和硝酸组成的第二腐蚀剂使核级银‑铟‑镉控制棒的内部组织显现，从而进行观测，方法简单，方便快捷。

主权项

1.一种观测核级银-铟-镉控制棒低倍组织的样品处理方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤一、将核级银-铟-镉控制棒机械加工出观测平面；步骤二、将步骤一中得到的核级银-铟-镉控制棒观测平面进行研磨，然后进行抛光，直至核级银-铟-镉控制棒观测平面上无明显划痕；步骤三、采用第一腐蚀剂对步骤二中经抛光后的核级银-铟-镉控制棒观测平面进行一次擦蚀；所述第一腐蚀剂由H2O2溶液、氨水溶液和水配制而成，所述水的加入量为H2O2溶液和氨水溶液总体积的3～5倍；步骤四、采用第二腐蚀剂对步骤三中经一次擦蚀后的核级银-铟-镉控制棒观测平面进行二次擦蚀，然后对二次擦蚀后的核级银-铟-镉控制棒进行观测；所述第二腐蚀剂由醋酸、乙醇和硝酸配制而成。