[发明专利]非接触式点光源成像测量反射面位置的装置及方法在审
| 申请号： | 201711226344.4 | 申请日： | 2017-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN107764185A | 公开（公告）日： | 2018-03-06 |
| 发明（设计）人： | 孙宏 | 申请（专利权）人： | 福州锐景达光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/02 |
| 代理公司： | 福州市众韬专利代理事务所(普通合伙)35220 | 代理人： | 王旭,王良财 |
| 地址： | 350000 福建省福州市*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明涉及非接触式点光源成像测量反射面位置的装置及方法，包括机架、基准面、传感器组件以及位移传感器；传感器组件包括沿光线入射方向依次于第一光轴上的点光源、半透半反镜、凸透镜一以及设置于第二光轴上的图像传感器；第一光轴与基准面垂直，第一光轴和第二光轴呈设定的夹角设置；点光源位于凸透镜一的焦点上，图像传感器与第二光轴的交点和点光源与第一光轴的交点以半透半反镜为对称面对称设置，半透半反镜位于第一光轴和第二光轴的角平分线上。本发明克服了色散共焦位移传感技术中要求反射面严格垂直于光轴、量程范围受色散镜头色散范围限制的缺点，而且制造成本低，测量速度快。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 光源 成像 测量 反射 位置 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种非接触式点光源成像测量反射面位置的装置，其特征在于：包括机架(1)、设置于机架(1)上的用于放置被测物体(2)的基准面(3)、滑动连接于机架(1)上且可在靠近或远离基准面(3)的方向上移动的传感器组件(4)以及设置于机架(1)上且位于基准面(3)和传感器组件(4)之间的用于获取传感器组件(4)相对基准面(3)位置信息的位移传感器(5)；所述传感器组件(4)包括沿光线入射方向依次设置于第一光轴(41)上的点光源(42)、半透半反镜(43)、凸透镜一(44)以及设置于第二光轴(45)上的用于获取经被测物体(2)的被测反射面(21)和半透半反镜(43)反射后光线的图像传感器(46)；所述第一光轴(41)与基准面(3)垂直，第一光轴(41)和第二光轴(45)呈设定的夹角设置；所述点光源(42)位于凸透镜一(44)的焦点上，所述图像传感器(46)与第二光轴(45)的交点和点光源(42)与第一光轴(41)的交点以半透半反镜(43)为对称面对称设置，所述半透半反镜(43)位于第一光轴(41)和第二光轴(45)的角平分线上使得经被测反射面(21)反射后的光线能经半透半反镜(43)偏折到第二光轴(45)。
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