[发明专利]一种磁存储器的测试方法、装置、存储介质及电子装置有效
| 申请号： | 201711215952.5 | 申请日： | 2017-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN108109668B | 公开（公告）日： | 2020-12-11 |
| 发明（设计）人： | 何世坤 | 申请（专利权）人： | 中电海康集团有限公司;浙江驰拓科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/02 | 分类号： | G11C29/02;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 赵囡囡 |
| 地址： | 311121 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种磁存储器的测试方法、装置、存储介质及电子装置，该方法包括：对所有磁存储器同时施加第一激励，并执行在所有磁存储器中写入数据的写操作，其中，所述第一激励的激励值大于预定阈值，将每个磁存储器置于某一相同状态；在完成所述写操作之后，对所有磁存储器同时施加第二激励，其中，所述第二激励的激励值小于所述预定阈值；在施加了所述第二激励之后，分别读取各个磁存储器中的数据状态；根据读取的各个磁存储器中的数据状态确定磁存储器的读扰动。通过本发明，解决了相关技术中存在的磁存储器的测试耗时长的问题，进而达到了减少磁存储器测试时间的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 磁存储器 测试 方法 装置 存储 介质 电子 | ||
【主权项】：
1.一种磁存储器的测试方法，其特征在于，包括：对所有磁存储器同时施加第一激励，并执行在所有磁存储器中写入数据的写操作，其中，所述第一激励的激励值大于预定阈值，将每个磁存储器置于某一相同状态；在完成所述写操作之后，对所有磁存储器同时施加第二激励，其中，所述第二激励的激励值小于所述预定阈值；在施加了所述第二激励之后，分别读取各个磁存储器中的数据状态；根据读取的各个磁存储器中的数据状态确定磁存储器的读扰动。
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