[发明专利]一种集成电路测试不良品芯片处理设备在审
| 申请号： | 201711212553.3 | 申请日： | 2017-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN108080108A | 公开（公告）日： | 2018-05-29 |
| 发明（设计）人： | 周晓东;张健;刘超群;阳冬 | 申请（专利权）人： | 郑世珍 |
| 主分类号： | B02C18/14 | 分类号： | B02C18/14;B02C18/18;B02C18/24;B02C4/20;B02C4/42;B02C23/14;B02C23/16;H01L21/67 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 344500 江西省抚州市南*** | 国省代码： | 江西;36 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种处理设备，尤其涉及一种集成电路测试不良品芯片处理设备。本发明要解决的技术问题是提供一种能够多方向转动进行破碎处理、能够多级进行破碎处理和能够节省人力降低劳动强度的集成电路测试不良品芯片处理设备。为了解决上述技术问题，本发明提供了这样一种集成电路测试不良品芯片处理设备，包括有处理箱等；处理箱左侧连接有驱动机构，处理箱内连接有破碎机构。本发明达到了能够多方向转动进行破碎处理、能够多级进行破碎处理和能够节省人力降低劳动强度的效果，通过设置了驱动机构和破碎机构，来实现对不良品芯片进行破碎处理的目的，为了方便对破碎处理完成的不良品芯片进行收集，设置了底座和收集箱。 | ||
| 搜索关键词： | 破碎处理 不良品 集成电路测试 芯片处理设备 多方向转动 破碎机构 驱动机构 处理箱 芯片 处理设备 收集箱 底座 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路测试不良品芯片处理设备，其特征在于，包括有处理箱（1）、驱动机构（2）和破碎机构（3），处理箱（1）左侧连接有驱动机构（2），处理箱（1）内连接有破碎机构（3）。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于郑世珍，未经郑世珍许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711212553.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种塑料粉碎机
- 下一篇：一种内振动粉碎式酿酒原料用制粉装置
