[发明专利]基于数控系统二次开发的零件形位公差在线测量方法在审
| 申请号： | 201711210756.9 | 申请日： | 2017-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN108000237A | 公开（公告）日： | 2018-05-08 |
| 发明（设计）人： | 孔志学;蹇悦;杨叶;郭国强;潘华东;周井文;唐水英;梁星慧 | 申请（专利权）人： | 上海航天精密机械研究所 |
| 主分类号： | B23Q17/22 | 分类号： | B23Q17/22 |
| 代理公司： | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人： | 张绪成 |
| 地址： | 201600*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供基于数控系统二次开发的零件形位公差在线测量方法，包括：OCX控件开发；利用界面配置工具配置界面；嵌入式脚本程序开发，建立与数控系统的通讯，同时调用OCX控件封装的功能，对零件的形位公差进行分析计算；启动测量功能；数控设备执行测量程序，检测探头测量零件；对测量数据进行分析，获得零件形位公差；显示测量结果。本发明提供的基于数控系统二次开发的零件形位公差在线测量方法，将形位公差的测量过程封装在数控子程序的执行之中，可以实现零件生产过程中形位公差的高效检测，有效避免了人工检测过程中的错检、漏检问题的发生，提高了零件检验效率；对零件生产过程数据进行了有效保存，为零件生产过程质量追溯提供了数据依据。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 数控系统 二次开发 零件 公差 在线 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于数控系统二次开发的零件形位公差在线测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S11、OCX控件开发；S12、利用界面配置工具配置界面；S13、嵌入式脚本程序开发，建立与数控系统的通讯，同时调用OCX控件封装的功能，对零件的形位公差进行分析计算；S14、工控机启动测量功能；S15、数控设备执行测量程序，检测探头测量零件；S16、测量子程序将测量数据存储在数控系统全局变量中，脚本程序根据特征测量的完成情况，调用OCX控件中测量特征对应的算法函数对测量数据进行分析，获得零件形位公差并存储在本地；S17、显示测量结果。
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