[发明专利]多光轴平行度测量系统及方法有效

专利信息
申请号: 201711200873.7 申请日: 2017-11-24
公开(公告)号: CN107830821B 公开(公告)日: 2019-02-26
发明(设计)人: 张振宇;王皓;熊海林 申请(专利权)人: 北京国泰蓝盾科技有限公司
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26;G01B11/27
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 郭新娟
地址: 100192 北京市海淀区西小口路66*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种多光轴平行度测量系统及方法,涉及组合光学侦测系统领域。所述多光轴平行度测量系统包括基准调整设备、靶板调整装置和靶板,靶板设置于靶板调整装置上,基准调整设备上设置有组合光学侦测装置,基准调整设备和靶板调整装置间隔相对设置,基准调整设备上设置有俯仰校准装置,基准调整设备上还设置有方位校准装置,靶板上设置有靶纸,靶纸用于获取被测成像系统光轴距离基准系统光轴的位置偏差,以基于该位置偏差获取被测成像系统光轴的平行度。本发明提出了一种多光轴平行度测量系统来模拟大口径平行光管,降低了测量校准设备设计制作和调校的难度,且降低了对测量场地的要求,操作方便,具有较高的实用性。
搜索关键词: 光轴 平行 测量 系统 方法
【主权项】:
1.一种多光轴平行度测量系统,其特征在于,包括基准调整设备、靶板调整装置、显示设备和靶板,所述靶板设置于所述靶板调整装置上,所述基准调整设备上设置有组合光学侦测装置,所述基准调整设备和所述靶板调整装置间隔相对设置,所述显示设备与所述组合光学侦测装置连接,所述基准调整设备用于调整所述组合光学侦测装置的方位和俯仰角度,所述靶板调整装置用于调整所述靶板的方位和俯仰角度,所述基准调整设备上设置有俯仰校准装置,所述俯仰校准装置用于为所述基准调整设备和所述靶板调整装置的俯仰角度校准提供参照,以使所述组合光学侦测装置处于水平位置,以及使所述靶板垂直于水平面,所述基准调整设备上还设置有方位校准装置,所述方位校准装置用于为所述基准调整设备和所述靶板调整装置的方位校准提供参照,以使所述组合光学侦测装置的基准系统光轴与所述靶板垂直,所述靶板上设置有靶纸,所述靶纸为网格状,所述靶纸上设置有所述基准系统光轴对应的十字分划线以及所述组合光学侦测装置中各个成像系统光轴对应的标准十字分划线,所述靶纸用于获取被测成像系统光轴距离所述基准系统光轴的位置偏差,以基于所述位置偏差获取所述被测成像系统光轴的平行度,所述显示设备用于显示所述靶纸的像以及所述基准系统光轴和所述组合光学侦测装置中的各个成像系统光轴在所述靶纸上的位置。
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