[发明专利]在寿命考核试验中的盘类零件的裂纹在位监测系统和方法有效

专利信息
申请号: 201711187500.0 申请日: 2017-11-23
公开(公告)号: CN107976482B 公开(公告)日: 2020-07-10
发明(设计)人: 陈雪峰;马猛;刘若楠;刘忠华;郭文涛;于杰;张兴良;薛明 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01N27/90 分类号: G01N27/90;G01B7/02
代理公司: 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 代理人: 覃婧婵
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 公开了一种在寿命考核试验中的盘类零件的裂纹在位监测系统和监测方法,裂纹在位监测系统包括检测所述盘类零件的传感器装置(1)、采集来自所述传感器装置(1)信号的数据采集装置(2)和连接所述数据采集装置(2)的处理装置(3),其中,传感器装置(1)包括:第一位移传感器(4),其相对于所述寿命考核试验器的轴布置以检测所述轴的第一位移信号,第二位移传感器(5),其与所述第一位移传感器(4)垂直且相对于所述寿命考核试验器的轴布置以检测所述轴的第二位移信号,键相传感器(6),其相对于所述寿命考核试验器的轴的键相槽布置以检测所述键相槽的键相信号。
搜索关键词: 寿命 考核 试验 中的 零件 裂纹 在位 监测 系统 方法
【主权项】:
一种在寿命考核试验中的盘类零件的裂纹在位监测系统,其特征在于,裂纹在位监测系统包括检测所述盘类零件的传感器装置(1)、采集来自所述传感器装置(1)信号的数据采集装置(2)和连接所述数据采集装置(2)的处理装置(3),其中,传感器装置(1)包括,第一位移传感器(4),其相对于所述寿命考核试验器的轴布置以检测所述轴的第一位移信号,第二位移传感器(5),其与所述第一位移传感器(4)垂直且相对于所述寿命考核试验器的轴布置以检测所述轴的第二位移信号,键相传感器(6),其相对于所述寿命考核试验器的轴的键相槽布置以检测所述键相槽的键相信号;数据采集装置(2)采集第一位移信号、第二位移信号和键相信号并发送到所述处理装置(3),所述处理装置(3)包括,耦合单元(7),其对第一位移信号、第二位移信号和键相信号进行耦合处理并发送耦合数据到处理单元(8),处理单元(8),所述处理单元(8)基于所述耦合数据判断盘类零件的状态是否正常。
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