[发明专利]电容单元在审

专利信息
申请号: 201711167485.3 申请日: 2017-11-21
公开(公告)号: CN108736697A 公开(公告)日: 2018-11-02
发明(设计)人: 黄乾燿;林文杰;许家维;苏郁迪 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H02M1/15 分类号: H02M1/15;H01L27/092
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 李昕巍;章侃铱
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 本公开实施例提供一种电容单元。电容单元包括一第一PMOS晶体管、一第一NMOS晶体管、一第二PMOS晶体管以及一第二NMOS晶体管。第一PMOS晶体管耦接于一电源供应端以及一第一节点之间,具有耦接于一第二节点的栅极。第一NMOS晶体管耦接于一接地端以及第二节点之间,具有耦接于第一节点的栅极。第二PMOS晶体管具有耦接于第二节点的漏极与栅极,以及耦接于电源供应端或是第一节点的源极。第二NMOS晶体管具有耦接于第一节点的漏极与栅极,以及耦接于接地端或是第二节点的源极。第一PMOS晶体管和第一NMOS晶体管形成交互耦接的解耦合结构,具有串联通道阻抗的MOS电容值,以增加静电放电保护并降低栅极漏电流。
搜索关键词: 耦接 电容单元 电源供应端 接地端 漏极 源极 静电放电保护 栅极漏电流 交互耦接 通道阻抗 解耦合 串联
【主权项】:
1.一种电容单元,包括:一第一PMOS晶体管,耦接于一电源供应端以及一第一节点之间,具有耦接于一第二节点的栅极;一第一NMOS晶体管,耦接于一接地端以及上述第二节点之间,具有耦接于上述第一节点的栅极;一第二PMOS晶体管,具有耦接于上述第二节点的漏极与栅极,以及耦接于上述电源供应端或是上述第一节点的源极;以及一第二NMOS晶体管,具有耦接于上述第一节点的漏极与栅极,以及耦接于上述接地端或是上述第二节点的源极。
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