[发明专利]一种测试随机数发生器的测试电路在审
申请号: | 201711091415.4 | 申请日: | 2017-11-08 |
公开(公告)号: | CN107957543A | 公开(公告)日: | 2018-04-24 |
发明(设计)人: | 张楠;肖佐楠;郑茳 | 申请(专利权)人: | 天津国芯科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G06F7/58 |
代理公司: | 天津滨海科纬知识产权代理有限公司12211 | 代理人: | 杨慧玲 |
地址: | 300457 天津市滨海新区开发*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明提供了一种测试随机数发生器的测试电路,随机数发生器产生首个随机数并将其存储在首寄存器中,然后使能随机数发生器电路的测试模式,同时随机数发生器再次产生一组随机数并将其存储在次寄存器中,然后将存储在首寄存器中的随机数和存储在次寄存器中的随机数作比较,比较结束,将随机数发生器测试电路的输出信号作为判断随机数发生器工作是否异常的标识信号。本发明所述测试方法的具备连续检查的能力,并且用硬件的方式实现,使其具有功能稳定并且具备防篡改能力;本发明能够实现对随机数生成器所产生的随机数的实时测试,保证当随机数发生器工作异常时,可以及时被发现,防止错误的随机数被系统使用。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 随机数 发生器 电路 | ||
【主权项】:
一种测试随机数发生器的测试电路,其特征在于:包括随机数发生器子系统和处理器子系统;所述随机数发生器子系统包括随机数发生器、首寄存器、次寄存器以及比较器,所述次寄存器还包含选通器,所述处理器子系统包括处理器和存储器,所述处理器连接随机数发生器,用于请求随机数发生器产生一组随机数,所述随机数发生器输出连接处理器,用于传输其产生的随机数,所述随机数发生器输出还连接首寄存器,所述首寄存器通过选通器连接次寄存器,所述选通器还连接随机数发生器;所述首寄存器和次寄存器的输出端连接比较器的两个输入端,所述比较器的输出端直接连接处理器,或者比较器的输出端连接组合逻辑门的一个输入端,所述组合逻辑门的另一个输入端连接时序逻辑门的输出端,所述时序逻辑门的输入端连接存储器和处理器,所述组合逻辑门的输出端连接处理器;所述首寄存器、次寄存器、存储器还连接处理器。
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