[发明专利]包括沟道结构的半导体器件有效
申请号: | 201711076689.6 | 申请日: | 2017-11-06 |
公开(公告)号: | CN108074935B | 公开(公告)日: | 2022-02-01 |
发明(设计)人: | 孙龙勋;金润载;南硕祐 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L27/11556 | 分类号: | H01L27/11556;H01L27/11582 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王新华 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本公开提供了包括沟道结构的半导体器件。一种半导体器件包括设置在半导体衬底上的堆叠结构。堆叠结构包括交替堆叠的层间绝缘层和栅电极。多个分隔图案设置为穿透堆叠结构。沟道结构设置在所述多个分隔图案中的两个相邻的分隔图案之间。沟道结构包括插置在堆叠结构与半导体衬底之间同时与半导体衬底接触的水平部分,并且包括在垂直方向上从水平部分延伸并穿透堆叠结构的垂直部分。下部结构插置在水平部分与分隔图案之间。电介质结构插置在垂直部分与堆叠结构之间并在水平部分与堆叠结构之间延伸。 | ||
搜索关键词: | 包括 沟道 结构 半导体器件 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:堆叠结构,设置在半导体衬底上,所述堆叠结构包括交替堆叠的层间绝缘层和栅电极;多个分隔图案,设置在所述半导体衬底上并穿透所述堆叠结构;沟道结构,设置在所述多个分隔图案中的两个相邻的分隔图案之间,所述沟道结构包括插置在所述堆叠结构与所述半导体衬底之间同时与所述半导体衬底接触的水平部分,并且包括在垂直方向上从所述水平部分延伸并穿透所述堆叠结构的多个垂直部分;下部结构,插置在所述水平部分与所述分隔图案之间;以及电介质结构,插置在所述多个垂直部分与所述堆叠结构之间并在所述水平部分与所述堆叠结构之间延伸。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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