[发明专利]微小卫星单机可靠性试验方法在审
申请号: | 201710994363.5 | 申请日: | 2017-10-23 |
公开(公告)号: | CN108008211A | 公开(公告)日: | 2018-05-08 |
发明(设计)人: | 张华;宗益燕 | 申请(专利权)人: | 上海卫星工程研究所 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01N21/88;G01N29/06;G01M7/02;G01M7/08 |
代理公司: | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人: | 郭国中 |
地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种微小卫星单机可靠性试验方法,包括如下步骤:步骤一:明确微小卫星单机可靠性试验的原则要求,包括:优化元器件级试验、强化单板级试验、简化单机级试验;步骤二,确定微小卫星单机可靠性试验的项目和顺序;步骤三,明确微小卫星单机可靠性试验的具体要求。本发明明确了微小卫星单机可靠性试验的原则问题,以及微小卫星单机可靠性试验的试验项目、试验顺序和试验要求的问题。 | ||
搜索关键词: | 微小 卫星 单机 可靠性 试验 方法 | ||
【主权项】:
1.一种微小卫星单机可靠性试验方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一:明确微小卫星单机可靠性试验的原则要求,包括:优化元器件级试验、强化单板级试验、简化单机级试验;步骤二,确定微小卫星单机可靠性试验的项目和顺序;步骤三,明确微小卫星单机可靠性试验的具体要求。
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