[发明专利]一种光场高阶相干度及噪声特性的探测装置

摘要

本发明属于光场微观统计特性的研究领域，提出了一种单光子水平上的光场高阶相干度及噪声特性研究装置，包括半导体激光器、偏振控制器、环形器、光纤耦合器、可调光纤衰减器、隔离器，半波片、偏振分束棱镜、第一准直透镜、光纤、第二准直透镜、光衰减器、聚焦透镜、毛玻璃片、光阑、滤波片、衰减片、第一分束镜、第二分束镜、第三分束镜、第一单光子探测器、第二单光子探测器、第三单光子探测器、第四单光子探测器和数据采集系统；数据采集系统与第一单光子探测器、第二单光子探测器、第三单光子探测器、第四单光子探测器的信号输出端连接；本发明可以研究光场高阶相干度及噪声特性，可以应用于光场特性研究领域。

主权项

1.一种光场高阶相干度及噪声特性的探测装置，其特征在于，包括半导体激光器(1)、偏振控制器(2)、环形器(3)、光纤耦合器(4)、可调光纤衰减器(5)、隔离器(6)，半波片(7)、偏振分束棱镜(8)、第一准直透镜(9)、光纤(10)、第二准直透镜(11)、光衰减器(12)、聚焦透镜(15)、毛玻璃片(16)、光阑(17)、滤波片(18)、衰减片(19)、第一分束镜(20)、第二分束镜(21)、第三分束镜(24)、第一单光子探测器(22)、第二单光子探测器(23)、第三单光子探测器(25)、第四单光子探测器(26)和数据采集系统(27)；/n所述半导体激光器(1)产生的光经偏振控制器(2)后依次入射到环形器(3)和光纤耦合器(4)，从光纤耦合器(4)出射的光被分为两束，一束经可调光纤衰减器(5)后返回到环形器(3)，并经偏振控制器(2)反馈给半导体激光器(1)，另一束经隔离器(6)、半波片(7)、偏振分束棱镜(8)后被分为两束，一束作为本底光由探测器探测，另一束由第一准直透镜(9)耦合进光纤(10)之后再经第二准直透镜(11)入射到光衰减器(12)，经过光衰减器(12)的光由聚焦透镜(15)会聚后入射到旋转速度可调的毛玻璃片(16)上，被毛玻璃片(16)散射的光经光阑(17)、滤波片(18)后由第一分束镜(20)分成两束光，其中一束经第二分束镜(21)后再分成两束，分别入射到第一单光子探测器(22)和第二单光子探测器(23)，另一束经第三分束镜(24)后再分成两束，分别入射到第三单光子探测器(25)和第四单光子探测器(26)；/n所述数据采集系统(27)与所述第一单光子探测器(22)、第二单光子探测器(23)、第三单光子探测器(25)、第四单光子探测器(26)的信号输出端连接，用于接收所述第一单光子探测器(22)、第二单光子探测器(23)、第三单光子探测器(25)、第四单光子探测器(26)分别传输的光子数n