[发明专利]纳米光场自旋-轨道相互作用测量系统及方法有效

专利信息
申请号: 201710944829.0 申请日: 2017-09-30
公开(公告)号: CN109596576B 公开(公告)日: 2020-07-14
发明(设计)人: 孙琳;白本锋;张小萌;王佳 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01N21/63 分类号: G01N21/63
代理公司: 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 代理人: 哈达
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种旋性分辨的探针外差干涉装置、纳米光场自旋‑轨道相互作用测量系统和方法。所述探针外差干涉装置包括:分光模块,单束激光经过所述分光模块分为原测量光和原参考光;差频生成装置对原测量光和原参考光进行频率调制,输出预定频率差的测量光和参考光;测量光偏振控制装置设置在测量光的传输方向上;聚焦扫描装置设置在测量光偏振控制装置的参考光的输出方向上输出照明光;照明光激发样品产生纳米光场,孔径型扫描近场光学显微镜装置在近场探测收集纳米光场并输出样品信息光;参考光偏振补偿装置设置在参考光的传输方向上,参考光入射到参考光偏振补偿装置输出偏振补偿光;样品信息光和偏振补偿光传输至耦合装置发生干涉产生外差干涉光。
搜索关键词: 纳米 自旋 轨道 相互作用 测量 系统 方法
【主权项】:
1.一种旋性分辨的探针外差干涉装置,其特征在于,包括:分光模块,单束激光经过所述分光模块分为原测量光和原参考光;差频生成装置,设置在所述原测量光和原参考光的传输方向上,对原测量光和原参考光进行频率调制,输出测量光和参考光,并使所述测量光与所述参考光产生预定频率差;测量光偏振控制装置,设置在所述测量光的传输方向上,所述测量光入射到所述测量光偏振控制装置后对所述测量光的偏振态进行调整;聚焦扫描装置,设置在所述测量光偏振控制装置的参考光的输出方向上,对经过所述测量光偏振控制装置后的测量光进行聚焦输出照明光,并微调所述照明光相对于样品的激发位置;孔径型扫描近场光学显微镜装置,所述照明光激发所述样品产生纳米光场,所述孔径型扫描近场光学显微镜装置在近场探测收集所述纳米光场并输出样品信息光;参考光偏振补偿装置,设置在所述参考光的传输方向上,所述参考光入射到所述参考光偏振补偿装置后输出偏振补偿光;耦合装置,所述样品信息光与所述偏振补偿光入射到所述耦合装置发生干涉产生外差干涉光。
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