[发明专利]双数据线测试方法、电路及制作方法、阵列基板、显示装置有效
| 申请号： | 201710895435.0 | 申请日： | 2017-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN107463015B | 公开（公告）日： | 2021-01-26 |
| 发明（设计）人： | 华明;滕飞;张小松;李国栋 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人： | 滕一斌 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种双数据线测试方法、电路及制作方法、阵列基板、显示装置，属于显示器领域。所述双数据线测试电路包括至少一条测试线，每条所述测试线被配置为用于对阵列基板上的至少两对数据线进行测试，采用同一条所述测试线测试的所述至少两对数据线相邻布置，每对数据线包括两条连接同一列子像素单元的数据线，每对所述数据线中的一条数据线与对应的所述测试线连接；每条所述测试线上均设置有至少一个开关，每条所述测试线在与任意相邻的两对数据线的连接点之间的部分设置有一个开关，每个所述开关的控制端均连接有控制线。 | ||
| 搜索关键词： | 双数 测试 方法 电路 制作方法 阵列 显示装置 | ||
【主权项】：
一种双数据线测试电路，其特征在于，所述双数据线测试电路包括至少一条测试线，每条所述测试线被配置为用于对阵列基板上的至少两对数据线进行测试，采用同一条所述测试线测试的所述至少两对数据线相邻布置，每对数据线包括两条连接同一列子像素单元的数据线，每对所述数据线中的一条数据线与对应的所述测试线连接；每条所述测试线上均设置有至少一个开关，每条所述测试线在与任意相邻的两对数据线的连接点之间的部分设置有一个开关，每个所述开关的控制端均连接有控制线。
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