[发明专利]阵列基板及阵列基板测试结构在审
| 申请号： | 201710879966.0 | 申请日： | 2017-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN107463014A | 公开（公告）日： | 2017-12-12 |
| 发明（设计）人： | 黄耀立;贺兴龙 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司44202 | 代理人： | 郝传鑫,熊永强 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种阵列基板，所述阵列基板包括显示区及非显示区，所述非显示区设置有多个测试信号接收引脚、多个压合引脚以及多个传输线，所述测试信号接收引脚与所述压合引脚排列成一排。本发明的阵列基板降低了电子装置非显示区的宽度，便于电子装置的窄边框设计。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 测试 结构 | ||
【主权项】：
一种阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括显示区及非显示区，所述非显示区设置有多个测试信号接收引脚、多个压合引脚以及多个传输线，所述测试信号接收引脚与所述压合引脚排列成一排。
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