[发明专利]一种电路板接插件性能评价方法在审

专利信息
申请号: 201710853075.8 申请日: 2017-09-20
公开(公告)号: CN107861018A 公开(公告)日: 2018-03-30
发明(设计)人: 黄建业;阮红梅;陈川;王俊;揭敢新 申请(专利权)人: 中国电器科学研究院有限公司
主分类号: G01R31/04 分类号: G01R31/04
代理公司: 广州知友专利商标代理有限公司44104 代理人: 宣国华,何秋林
地址: 510300 *** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种电路板接插件性能评价方法,步骤如下制备试验样品,观察记录试验样品的外观;测量试验样品初始绝缘电阻;测量试验样品初始接触电阻;将试验样品分为四组,每组至少包括两个试验样品;其中一组试验样品不通电流,另外三组试验样品分别通恒定电流I1、I2、I3,I1<I2<I3,其中电流I2应为接插件的额定电流;将四组试验样品置于盐雾箱中,进行盐雾交变循环试验;盐雾交变循环试验后,断开电流,将四组样品取出,观察并记录样品试验后的外观;然后干燥;测量样品试验后的绝缘电阻;测量样品试验后的接触电阻;评价电路板接插件在不同工况下的性能。该方法不但能反映电路板接插件带电腐蚀和常规腐蚀的差异,而且能引导人们采取适当的防护措施。
搜索关键词: 一种 电路板 插件 性能 评价 方法
【主权项】:
一种电路板接插件性能评价方法,所述接插件包括接头和插座,所述接头和插座插接在一起,两者中的接触端子对应连通,其特征在于,所述评价方法包括如下步骤:步骤S1、制备试验样品,观察记录试验样品的外观;步骤S2、测量试验样品初始绝缘电阻;步骤S3、测量试验样品初始接触电阻;步骤S4、将试验样品分为四组,每组至少包括两个试验样品;其中一组试验样品不通电流,另外三组试验样品分别通恒定电流I1、I2、I3,I1<I2<I3,其中电流I2应为所述接插件的额定电流;将四组试验样品置于盐雾箱中,进行盐雾交变循环试验;步骤S5、盐雾交变循环试验后,断开电流I1、I2、I3,将四组样品取出,观察并记录样品试验后的外观;然后干燥;步骤S6、测量样品试验后的绝缘电阻;步骤S7、测量样品试验后的接触电阻;步骤S8、根据表1评价电路板接插件在不同工况下的性能;表1电路板接插件性能评价其中,ΔR为试验前后接触电阻的增量,R试验后为试验后的接触电阻,R限和ΔR限分别为接插件标定的接触电阻及其增量的上限,r限为接插件标定的绝缘电阻下限。
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