[发明专利]一种快速测试天线阵方向图的方法有效

专利信息
申请号: 201710724942.8 申请日: 2017-08-22
公开(公告)号: CN107390039B 公开(公告)日: 2019-11-15
发明(设计)人: 张勇虎;徐兰霞;姜果平 申请(专利权)人: 湖南卫导信息科技有限公司
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 31258 上海海颂知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 任益<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 410000湖南省长沙市高新开发区尖山路3*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种快速测试天线阵方向图的方法,首先将信号源、标准接收机以及待测试的天线阵布局在微波暗室中,通过对待测试的天线阵进行编号并确定天线与角度之间的关系,再对微波暗室进行区域划分,按区域通过信号源向被测天线发送信号,然后通过标准接收机接收被测天线接收的信号,通过拟合绘制天线阵方向图。本发明能够快速简单地实现对天线阵方向图的测量,提高了工作效率;同时,还可以通过搭配不同的信号源以适用于不同类型天线阵列方向图的测量,通用性强。
搜索关键词: 一种 快速 测试 天线阵 方向 方法
【主权项】:
1.一种快速测试天线阵方向图的方法,其特征在于,具体包括以下步骤:/nS1.对微波暗室内部离散的M个天线阵布局进行初始化处理;/nS2.根据测试波束宽度要求,将微波暗室内部布局离散的天线阵划分成N个区域,每个区域覆盖的空间夹角范围为Φj;/nS3.控制某个区域对应的信号源输出频率为f的载噪比信号,直到标准接收机接收到信号为止,存储该区域包含的天线编号以及输出的载噪比和功率;/nS4.标准接收机通过被测天线阵接收信号,存储接收到的载噪比信息;/nS5.重复步骤S3至S4,直到所有区域全部测量完成,存储全部接收数据;/nS6.对存储的数据进行处理,逐步计算每一区域接收的载噪比信息和输出载噪比信号的差值,得到被测天线在特定波束宽度对应的空间夹角范围内的增益,通过全部数据拟合,绘制被测天线阵f频点的方向图;/nS7.重复步骤S3-S6,直到所有频点的方向图绘制完成。/n
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