[发明专利]SRAM芯片地址引脚线短路检测方法在审
| 申请号： | 201710676150.8 | 申请日： | 2017-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN107578796A | 公开（公告）日： | 2018-01-12 |
| 发明（设计）人： | 李璘;孙金泉;蔡登胜 | 申请（专利权）人： | 广西柳工机械股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/02 | 分类号： | G11C29/02 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司44202 | 代理人： | 郝传鑫 |
| 地址： | 545007 广*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本发明涉及SRAM芯片故障检测，为解决现有技术中不能对SRAM芯片地址引脚线短路故障进行快速精确检测定位的问题；提供一种SRAM芯片地址引脚线短路检测方法，包括以下步骤，根据芯片地址引脚的排列特性，列出地址引脚间可能短路的待检引脚组；获得SRAM芯片的起始地址，并确定所有与待检引脚组相对应的相关地址；依次向所有相关地址中写入与起始地址中数据不同的校验数据，比较校验数据写入前后起始地址中的数据，若起始地址中的数据发生变化则与该对应相关地址的待检引脚组中引脚间具有短路故障。本发明可以检测地址线引脚线是否短路，检测速度较快且精确，提高了SRAM的检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | sram 芯片 地址 引脚 短路 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种SRAM芯片地址引脚线短路检测方法，其特征在于包括以下步骤：S1：根据SRAM芯片地址引脚的排列特性，列出地址引脚间可能短路的待检引脚组；S2：根据电路的编址规则，获得SRAM芯片的起始地址，并确定所有与待检引脚组相对应的相关地址；每个相关地址中除了与该相关地址对应的待检引脚组之外的其他地址引脚赋值均为0且待检引脚组中所有地址引脚赋值不全相同；S3：依次向所有相关地址中写入与起始地址中数据不同的校验数据，比较校验数据写入前后起始地址中的数据，若起始地址中的数据发生变化则与该对应相关地址的待检引脚组中引脚间具有短路故障。
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