[发明专利]一种venlo型温室环境的高分辨率降阶建模方法有效
| 申请号： | 201710637629.0 | 申请日： | 2017-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN107545100B | 公开（公告）日： | 2020-05-05 |
| 发明（设计）人： | 李康吉;薛文平;毛罕平;江辉;周伟 | 申请（专利权）人： | 江苏大学 |
| 主分类号： | G06F30/28 | 分类号： | G06F30/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 212013 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种venlo型温室环境的高分辨率降阶建模方法，包括四个主要步骤：1)对温室环境作稳态数值仿真，构造不同外部条件下的温度场与风速流场数据集；2)通过本征正交分解技术构造数据集的特征向量；3)传感器测量温室外部条件，包括室外太阳辐射强度、室外温度与机械通风口风速；4)根据传感器测量值和数据集的特征向量推算温室内局部作物区域的温度分布和空气流场。本发明结合传感器测量和本征正交分解技术构造温室微气候降阶模型，能够通过布置少量传感器获取温室环境参数的高分辨率时空信息，具有硬件投资小、精度高等特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 venlo 温室 环境 高分辨率 建模 方法 | ||
【主权项】：
一种venlo型温室环境的高分辨率降阶建模方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1，利用计算流体力学工具对温室环境作稳态数值仿真，构造不同温室外部条件下的温度场与风速流场数据集；步骤2，通过本征正交分解技术构造数据集的特征向量；步骤3，传感器测量室外太阳辐射强度、室外温度与机械通风口风速；步骤4，根据传感器测量值和数据集的特征向量推算温室内局部作物区域的温度分布和空气流场。
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