[发明专利]一种基于稀土玻璃的费尔德常数测量系统的测量方法在审
| 申请号： | 201710636166.6 | 申请日： | 2017-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN109323991A | 公开（公告）日： | 2019-02-12 |
| 发明（设计）人： | 卢平 | 申请（专利权）人： | 苏州润桐专利运营有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/23 | 分类号： | G01N21/23 |
| 代理公司： | 苏州润桐嘉业知识产权代理有限公司 32261 | 代理人： | 赵丽丽 |
| 地址： | 215600 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于稀土玻璃费尔德常数测量系统的测量方法，主要解决现有技术中存在的测量灵敏度低、测量准确度低的技术问题，本发明通过采用所述系统包括线偏振光产生器，待测稀土玻璃，双折射晶体，起偏器，迈克尔逊干涉仪，与迈克尔逊干涉仪连接的会聚透镜，与会聚透镜连接的数据采集卡，与数据采集卡连接的上位机，迈克尔逊干涉仪受控于上位机；待测稀土玻璃两侧分别设有可变间距电磁铁的两端极，可变间距电磁铁受控于直流电源，可变间距电磁铁两端极间设有磁场强度测量装置；上位机设有存储介质，所述存储介质存储有干涉仪控制程序及稀土玻璃费尔德系数计算程序的解决了该问题，可用于磁光材料费尔德常数测量中。 | ||
| 搜索关键词： | 稀土玻璃 电磁铁 测量 迈克尔逊干涉仪 尔德常数 上位机 可变 数据采集卡 测量系统 存储介质 会聚透镜 受控 控制程序 磁场强度测量 系数计算程序 线偏振光产生 双折射晶体 准确度 直流电源 干涉仪 灵敏度 起偏器 磁光 可用 存储 | ||
【主权项】：
1.一种基于稀土玻璃费尔德常数测量系统的测量方法，其特征在于：所述测量方法包括：(1)将待测稀土玻璃(104)置于可变间距电磁铁(206)中，通过直流电源(207)为电磁铁供电，用高斯计(209)测量磁场强度B；(2)打开线偏振光产生器，线偏振光经过稀土玻璃后的光偏振方向发生改变，通过迈克尔逊干涉仪第二反射镜(109)的扫描得到干涉条纹，通过干涉条纹的强度及θ＝arcsin((1+(IF/Imain)2)/2)得到磁场强度B的法拉第转角，并通过θ＝VBL得到待测稀土玻璃(104)的费尔德常数V；(3)改变直流电源(207)的电压值大小使稀土玻璃所处磁场大小改变，重复步骤(1)及步骤(2)，通过至少两次测量，求平均值得到费尔德常数测量值。
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