[发明专利]一种微电流测试装置和方法

摘要

本发明公开了一种微电流测试装置和方法，解决现有微电流测试装置测试精度差、输入阻抗高、价格高的问题。所述装置，包含电路转换单元、比较放大单元、显示单元、标准电压源；电路转换单元将微电流信号转换成微电压信号，标准电压源输出幅度可调的参考电压信号，比较放大单元对参考电压信号和微电压信号的幅度，进行比较和放大，输出比较放大信号，显示单元根据比较放大信号显示比较结果。一种微电流测试方法，用于所述装置，包含以下步骤：对显示单元的检流计调零；对参考电压信号幅度进行调节，直到检流计指针指零，得到参考电压幅度；根据参考电压幅度和采样电阻，得到微电流值。本发明实现的微电流测试装置测试精度高、成本低、便于使用。

主权项

1.一种微电流测试装置，连接于被测试的仪器微电流输出端，其特征在于，包含电路转换单元、比较放大单元、显示单元、标准电压源；/n所述电路转换单元用于将微电流信号转换成微电压信号，包含第一运算放大器、采样电阻；/n所述第一运算放大器反相输入端用于输入所述微电流信号；/n所述采样电阻的一端接所述微电流信号输出端，另一端与所述第一运算放大器输出端连接；/n所述标准电压源用于输出幅度可调的参考电压信号；/n所述比较放大单元用于对所述参考电压信号和所述微电压信号的幅度，进行比较和放大，输出比较放大信号；/n所述显示单元用于根据所述比较放大信号显示所述参考电压信号和所述微电压信号的幅度比较结果；/n所述比较放大单元中的第二运算放大器型号为AD620；/n所述比较放大单元还包含第一、第二、第三、第四、第五、第六电阻，第一、第二、第三、第四、第五、第六电容，第一、第二二极管、第一、第二电位器；/n所述第二运算放大器的第一、第八管脚分别与所述第一电位器的两个固定端连接，第二、第三管脚分别与所述第一电阻、第三电阻一端、第二电阻、第四电阻一端连接，第四管脚与电源负极连接，第五管脚与所述第二电位器调节端连接，第六管脚输出所述比较放大信号，第七管脚与电源正极连接；/n所述第一电阻另一端与所述微电压信号输出端连接；/n所述第二电阻另一端与所述参考电压信号输出端连接；/n所述第二电容、第一二极管、第二二极管并联连接在所述第二运算放大器第二管脚和第三管脚，所述第一二极管、第二二极管的正极分别与第二运算放大器第三管脚、第二管脚连接；/n所述第三电阻、第四电阻的另一端接地；/n所述第三、第四电阻分别与所述第一、第三电容并联；/n所述第一电位器调节端与所述第一电位器任意一个固定端连接；/n所述第五电阻两端分别与所述电源负极、所述第二电位器固定端连接；/n所述第二电位器另一固定端与所述第六电阻一端连接；/n所述第六电阻另一端与电源正极连接；/n所述第四电容两端分别与所述电源负极、模拟地连接；/n所述第六电容两端分别与所述第二电位器调节端、模拟地连接；/n所述第五电容两端分别与模拟地、电源正极连接。/n