[发明专利]一种快速测定α圆片上铀同位素组成的方法有效
| 申请号： | 201710607835.7 | 申请日： | 2017-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN107389661B | 公开（公告）日： | 2020-02-07 |
| 发明（设计）人： | 崔荣荣;刘艳成;周伟;张岚;胡伟青;丛海霞;罗艳 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| 主分类号： | G01N21/71 | 分类号： | G01N21/71;G01N1/28 |
| 代理公司： | 31002 上海智信专利代理有限公司 | 代理人： | 邓琪;宋丽荣 |
| 地址： | 201800 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种快速测定α圆片上铀同位素组成的方法，包括：将含铀化合物的溶液中的铀负载到α圆片上得到待分析样品片；将六氟化铀标准物质的溶液中的铀负载到α圆片上得到标准样品片；优化LA和ICP‑MS得到仪器的优化参数；使用仪器的优化参数对标准样品片进行测定，得到各个核素的未校正的丰度值，使用所述未校正的丰度值除以标准物质的证书值得到每个核素丰度的校正因子；使用仪器的优化参数，采用线扫描方式剥蚀待分析样品片进行测定，测定的各个核素的计数比丰度值除以每个核素丰度的校正因子校正质量歧视效应，得到各个核素的校正的丰度值。根据本发明的快速测定α圆片上铀同位素组成的方法能够准确地测定各个核素的丰度值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 快速 测定 圆片上铀 同位素 组成 方法 | ||
【主权项】：
1.一种快速测定α圆片上铀同位素组成的方法，其特征在于，包括步骤：/nS1，将含铀化合物的溶液通过电镀或滴样制样法使铀负载到α圆片上，得到待分析样品片，所述含铀化合物选自二氧化铀、四氟化铀、六氟化铀和硝酸铀酰中的至少一种，所述电镀制样法包括在含铀化合物的溶液中依次加入硝酸、高氯酸、盐酸和电沉积液进行电镀，所述滴样制样法包括将含铀化合物的溶液滴样到α圆片表面上后在干燥箱中烘干或在红外烤灯下烤干，所述待分析样品片上负载的铀的含量为0.05-5mg；/nS2，将六氟化铀标准物质的溶液通过电镀或滴样制样法使铀负载到α圆片上，得到标准样品片，所述电镀制样法包括在六氟化铀标准物质的溶液中依次加入硝酸、高氯酸、盐酸和电沉积液进行电镀，所述滴样制样法包括将六氟化铀标准物质的溶液滴样到α圆片表面上后在干燥箱中烘干或在红外烤灯下烤干，所述标准样品片上负载的铀的含量为0.05-5mg；/nS3，优化激光剥蚀固体进样系统和电感耦合等离子体质谱仪，得到仪器的优化参数，使得仪器达到最佳工作状态的同时，使高丰度
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