[发明专利]电磁错误注入攻击方法及系统在审
| 申请号： | 201710564194.1 | 申请日： | 2017-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN107179448A | 公开（公告）日： | 2017-09-19 |
| 发明（设计）人： | 李文宝;李增局;史汝辉;石新凌;赵鹏辉;李海滨;张策;陈百顺;吴祥富;王洋 | 申请（专利权）人： | 北京智慧云测科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)11371 | 代理人： | 王术兰 |
| 地址： | 100000 北京市门头*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供了电磁错误注入攻击方法及系统，涉及测试技术领域，其中，该电磁错误注入攻击方法包括首先，由测试平台获取待测试芯片的敏感区域，之后，测试平台获取敏感区域的时间位置，其中，时间位置是敏感区域运行算法相对于触发信号的时间间隔，进而，测试平台能在上述时间位置对敏感区域进行电磁错误注入攻击，通过上述电磁错误注入攻击方法，测试平台能够准确锁定待测试芯片在运行某个算法时的敏感区域，并且，在恰当的时间位置对待测试芯片注入电磁错误以进行攻击，这样提高了测试中攻击的准确度，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 电磁 错误 注入 攻击 方法 系统 | ||
【主权项】：
电磁错误注入攻击方法，其特征在于，包括：测试平台获取待测试芯片的敏感区域；所述测试平台获取所述敏感区域的时间位置，其中，所述时间位置是所述敏感区域运行算法相对于触发信号的时间间隔；所述测试平台在所述时间位置对所述敏感区域进行电磁错误注入攻击。
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