[发明专利]一种测定表面电荷的方法

摘要

本发明公开了一种测定表面电荷的方法，用于对表面粗糙且不规则的颗粒或膜状物的表面电荷分布状态及其电荷密度作可视化定量测定，将待测物置于缓冲液中，加入与待测物表面电荷相异号电荷的荧光纳米粒子，荧光纳米粒子与待测物表面的电荷因静电吸引作用而结合，洗掉未结合到待测物表面电荷的自由荧光纳米粒子，通过将待测物置于荧光显微镜下进行荧光成像观察荧光纳米粒子的荧光分布状态与强度，从其荧光分布状态可确定待测物表面电荷的分布状态，通过测定每一点的荧光强度可确定该点的电荷密度。该方法操作简便、快速，能可视化检测具各种表面形态包括相当复杂粗糙且不规则表面的颗粒或膜状物的表面电荷三维分布状态，检测分辨率为数十纳米。

主权项

一种测定表面电荷的方法，用于对具有各种表面形态的物体包括表面粗糙且不规则的颗粒或膜状物的表面电荷分布状态及其电荷密度作可视化定量测定，其特征在于，所述的方法包括下列步骤：将待测物置于缓冲液中，加入与待测物表面电荷相异号电荷的荧光纳米粒子，荧光纳米粒子与待测物表面的电荷因静电吸引作用而结合；洗掉未结合到待测物表面电荷的自由荧光纳米粒子；将待测物置于荧光显微镜下进行成像观察；采用计算机图像重构技术，可视化展示荧光纳米粒子的二维或三维荧光分布状态，从其荧光分布状态判断待测物表面电荷的分布状态；采用计算机图像分析技术，测定待测物上各点的荧光强度，然后根据预先获得的荧光强度与zeta电位的关系曲线，确定每一点的zeta电位值ζ，由zeta电位值ζ得出每一点的电荷密度σ。