[发明专利]经由误差向量量值最小化确定星座减损参数在审

专利信息
申请号: 201710427732.2 申请日: 2017-06-08
公开(公告)号: CN107493141A 公开(公告)日: 2017-12-19
发明(设计)人: S.A.雅各布斯;R.A.小马斯兰 申请(专利权)人: 特克特朗尼克公司
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00;H04B17/10;H04B17/20
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 黄涛,张涛
地址: 美国俄*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 公开了一种测试和测量系统。该系统包括数据储存装置,具有接收的同相(I)正交(Q)码元的数据描述。接收的IQ码元从与减损相关联的传送器接收,并且接收的IQ码元由于所述减损而从对应的理想IQ码元被修改。计算机处理器耦合到所述数据储存装置并且生成误差向量量值(EVM)函数,误差向量量值函数关于指示所述减损的多个减损参数描述接收的IQ码元和理想IQ码元之间的差异。处理器然后确定减损参数的值,减损参数的值量化减损。所述值通过选择使EVM函数最小化的减损参数的值来确定。
搜索关键词: 经由 误差 向量 量值 最小化 确定 星座 减损 参数
【主权项】:
一种测试和测量系统,包括:数据储存装置,包括至少一个接收的同相(I)正交(Q)码元的数据描述,所述接收的IQ码元从与减损相关联的传送器接收,并且所述接收的IQ码元由于所述减损而从对应的理想IQ码元被修改;以及计算机处理器,耦合到所述数据储存装置并且被配置为:生成误差向量量值(EVM)函数,所述误差向量量值函数关于指示所述减损的多个减损参数描述所述接收的IQ码元和理想IQ码元之间的差异;以及确定所述减损参数的值,所述减损参数的值量化所述减损,所述值通过选择使EVM函数最小化的所述减损参数的值来确定。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于特克特朗尼克公司,未经特克特朗尼克公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710427732.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top